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 MATS-2010SD软磁直流测量装置
MATS-2010SD软磁直流测量装置
  软磁直流测量装置又可称为软磁直流B-H磁滞回线仪,软磁B-H测试仪。
  自动测量软磁材料在静态(直流)条件下的基本磁化曲线和磁滞回线,准确测量起始磁导率μi、最大磁导率μm、饱和磁感应强度Bs、剩磁Br、矫顽力Hc和磁滞损耗Pu等静态磁特性参数。
  MATS-2010SD软磁直流测量装置符合国标GB/T 13012-2008、GJB 937-90,行业标准SJ/T 10281-91和国际标准IEC 60404-4、IEC 404-7的规定。
  依照冲击法的测量原理,采用计算机控制技术和A/D、D/A相结合,以电子积分器取代传统的冲击检流计,实现微机控制下的模拟冲击法测量,不仅可以完全消除经典冲击法中因使用冲击检流计所带来的非瞬时性误差,而且测量精度高、速度快、重复性好、可消除各种人为因数的影响,为研究材料磁化过程机理提供可靠的依据。

  主要特点 软件功能 软件界面 原理框图 技术参数 参考配置 CE认证  
  采用Windows测量软件,使用方便。软件功能强大,对测试人员的技术要求极低。
  测试样品的种类:软磁铁氧体、坡莫合金、非晶、纳米晶、铁粉芯、电工纯铁和硅钢片。
  测试样品的形状:环形、E形、U形等闭路样品,条(棒)形、片状等开路样品。
  闭路样品直接绕线测量:样品、磁化线圈(N1)、测量线圈(N2)共同组成一个空载变压器。
  通过测量磁化电流来测量磁场强度,磁场锁定精度高达0.1%。
  采用电子积分器来测量磁感应强度,积分器的零点漂移通过软件自动修正。
  测量开路样品需选配螺线管或磁导计,开路样品的内场可通过内置的磁位计(选配件)来测量。
  测试方法:模拟冲击法和磁场扫描法。
  采用模拟冲击法测量基本磁化曲线,可准确测量磁化曲线上的磁特性参数:μi、μm、Bs、任意一点的μ值。
  采用模拟冲击法和磁场扫描法测量饱和磁滞回线,可准确测量磁滞回线上的磁特性参数:Bs、Br、Hc、Pu。需要特别说明的是:模拟冲击法测量磁滞回线是本公司所独有的测量方法,它使得Hc、Pu的准确度大大提高。
  测试μi前,有自动退磁功能,采用10Hz交流饱和退磁。
  采用模拟冲击法测量时,可选择测试单个参数,以节省时间,每个测试点的时间可设定为0.1秒~0.9秒。
  采用B速反馈,能根据样品磁特性曲线的形状自动调整测试点的疏密,也可按用户预先定义的测试点更精确地测量曲线。

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